EFC IC检查插座和探针

概要

较小型电子元器件现在已被应用于智能手机、汽车导航及先进运行技术等维持我们日常生活基础的各种应用。当然，检查该些产品的检查装置插座形状也各不相同。智能手机等扶持社会基础设施发展的应用，由于其新商品发布周期也较快，所以检查侧的插座形状也会每次随之更新。要想应对这种快速变化，除了技术能力以外，还需电子元器件检查装置具有可精确检查较小电子元器件性能的高测定精度、以及应对高密度化产品所需的微距。

[客户成品]短期发布周期：相机形状根据智能手机而各不相同。每次推出新商品时都会有所变化。[检查装置]短期规格更新[检查插座/探针]短期形状更新：设计速度可顺应发布周期，并可定制与检查对象产品(DUT)相应的形状。 => 需要快速设计、高精度、微距产品

欧姆龙的探针四大价值

欧姆龙的检查专用插座采用通过创新的EFC（Electro Formed Components）工艺技术制造的探针。在金属的弯曲加工中，可以微米级精度制作难以制作且形状复杂、具有高弹性的高耐久探针。通过EFC工艺技术和长期所积累的技术经验，实现了适用于客户检查对象产品(DUT)、检查特性超越弹簧探针制商品的插座，同时还可达到与弹簧探针制同等的设计速度。以高耐久性(长寿命)、高精度引以为豪的欧姆龙检查专用插座为削减客户的维护工时作出重大贡献。此外，支持高性能、高密度产品检查的微距探针配置也是欧姆龙板形探针最擅长的领域。
较小电子元器件的检查相关烦恼、咨询请交给欧姆龙。

弹簧针和欧姆龙的探针(叶片针)

何谓弹簧针

一般情况下，在IC检查专用插座上，检查装置侧的电路板与检查对象物体(DUT)之间会使用一种被称作弹簧针的可伸缩棒形探针(检查专用探针)作为通电所需的部分元器件。弹簧针主要是指由针轴、针管、弹簧共3个零件构成的探针。弹簧针也被称作探针或弹簧(附带弹簧)探针、接触探针。
但是，在设备小型化及多功能化、高密度贴装加速发展的今天，检查的稳定性、长寿命、微距化、低接触电阻等通过弹簧针难以应对的检查需求日渐表面化。

何谓欧姆龙的探针(叶片针)

欧姆龙的检查专用插座采用通过创新的EFC工艺技术制造的探针(通称：叶片针)。叶片针的结构与弹簧针完全不同，特点是可通过单一元器件结构再现复杂的探针形状。可定制设计适用于检查对象物体(DUT)的接触部形状。此外，欧姆龙的探针采用了具有较高硬度和弹性的创新材料^*2。
具有高耐久性、低接触电阻、高检查合格率、微距共四大优势，可以发挥比弹簧针更好的性能。

欧姆龙的探针(通称：叶片针)的结构范例：单一元器件结构。由1个元器件发挥弹簧针的针轴、针管、弹簧功能。

欧姆龙探针(叶片针)与弹簧针的对比

50万次以上		未满10万次
30ｍΩ 对于要求低接触电阻的检查对象物体也可实现较高的检查精度		70ｍΩ 难以用于要求低接触电阻的检查对象物体
99～100％		80～99％
0.20mm以下		0.35mm以上

^*BtoB连接器检查中的一例。

叶片针提供的四大价值

用于半导体等小型元器件检查的检查专用探针较细，直径在1mm以下，面临着耐久性的课题。已经渗透我们日常生活的半导体元器件检查次数每天平均达数万次至数十万次。因此，探针耐久性较短时，根据检查对象物体(DUT)的检查要求，检查机上附带的探针有时每天需更换100至10,000根。欧姆龙检查专用探针的机械耐久性高达50万次以上(弹簧针的约5倍以上)。因此，有助于削减客户的维护工时并有效提高生产效率。


现场	无需维护且持续运行探针具有长寿命，由此可提高生产效率	在定期维护中运行停止根据检查对象，有时每天需要更换 100～10,000根探针
机械耐久性	*^50万次以上**	^*未满10万次

现场

无需维护且持续运行

探针具有长寿命，由此可提高生产效率

在定期维护中运行停止

根据检查对象，有时每天需要更换
100～10,000根探针

机械耐久性

^*50万次以上

^*未满10万次

^*BtoB连接器检查中的一例。

实现长寿命的欧姆龙EFC工艺技术

通过欧姆龙的创新混合材料实现较高的弹性和导电率
凭借EFC工艺技术才可使用的欧姆龙创新材料可实现规格达到机械特性同等于SUS304、电气特性等同于铜合金的探针加工。

^*中国发明专利 CN103975094

欧姆龙的EFC工艺技术

计算机及电视机、智能手机等显示屏在不断更新升级。在画质更加清晰、操作感应更加敏锐的诸多产品中，最受注目的就是OLED(Organic Light Emitting Diode)。液晶是常用的传统显示屏，因不会自主发光而另需光源。但是，OLED的发光材料采用使用了有机物质的LED，电流流通后即会自然发光而无需其他光源。因此，可根据当前显示屏的需求选择使用非常轻薄的显示屏。

液晶：需类似于背面照明的其他光源，往往又厚又重 / 有机EL：OLED可自主发光，所以轻薄

尽管此类OLED具有诸多优势，但也是一种难以检查电气特性的应用。由于OLED的内部电阻很低，所以检查插座侧的电阻较高时，则无法确保充分的电流使OLED发光，从而难以执行辉度检查。
检查设备侧的电阻越低，对应用侧的性能检查越精准。
欧姆龙探针(叶片针)具有相当于弹簧针一半以下的30mΩ低接触电阻，不会影响设备的检查。可以高精度顺利完成检查。


现场	可检查因检查设备侧的接触电阻较低，所以即使是内部电阻较低的OLED类产品也可执行正确的检查	不可检查即使产品本身具有通过测试的性能，但因检查设备侧的接触电阻较高，所以无法执行正确的检查
接触电阻	*^30ｍΩ**	^*70ｍΩ

现场

可检查

因检查设备侧的接触电阻较低，所以即使是内部
电阻较低的OLED类产品也可执行正确的检查

不可检查

即使产品本身具有通过测试的性能，但因检查设备侧的接触电阻较高，所以无法执行正确的检查

接触电阻

^*30ｍΩ

^*70ｍΩ

^*BtoB连接器检查中的一例。

可实现低接触电阻的欧姆龙EFC工艺技术

通过面接触的设计款型可大幅度减小电阻值
例如用于相机模组的BtoB连接器，其端子的导通部位呈向上凸起的形状。使检查探针接触这种端子形状的产品时，由于弹簧针为“点接触”，所以难以维持稳定的机械式接触、执行稳定的机械性和电气性检查。但是，如果是欧姆龙的EFC工艺技术，则可定制形状适用于客户应用的叶片针。通过“面接触”的设计实现较高的接触可靠性。

[面接触]叶片针 / BtoB连接器

叶片针
因叶片针与连接器导通部的接触面积较大，所以接触电阻较低

[点接触]弹簧针 / BtoB连接器

弹簧针
因叶片针与连接器导通部的接触面积较小，所以接触电阻较高

欧姆龙的EFC工艺技术

欧姆龙叶片针的检查合格率高达99～100%。检查探针的接触异常所致不合格产品发生率未满1%，可有效削减客户的产品报废损耗，执行生产效率良好的检查。
检查合格率之高也有利于不良分析。产品的不良分析是制造更优质新商品的重要因素之一。但是，因检查机侧的原因而导致众多不合格产品时，对于“导致不良的原因”则无法执行正确的分析。而如果是欧姆龙的叶片针，一般则不会因检查探针与检查对象物体(DUT)的端子接触异常而产生不合格产品。由此可尽可能地减少检查机引起的不良原因，在产品上合理体现更高精度的产品不良分析结果。

智能相机的相机模组：对于逐渐微距化的移动设备，有时在BtoB连接器检查中会发生检查探针与检查对象物体(DUT)的接触异常。


现场	正确测定客户产品的规格削减报废损耗、便于特定不良部位	即使产品达到规格要求，也会因判断检查探针的接触异常而在检查中被判定为不良发生报废损耗、难以特定不良原因
检查合格率	*^99～100％**	^*80～99％

现场

正确测定客户产品的规格

削减报废损耗、
便于特定不良部位

即使产品达到规格要求，也会因判断检查探针的接触异常而在检查中被判定为不良

发生报废损耗、
难以特定不良原因

检查合格率

^*99～100％

^*80～99％

^*BtoB连接器检查中的一例。

实现高检查合格率的欧姆龙EFC工艺技术

通过面接触的设计款型可大幅度减少接触不良
例如相机模组的BtoB连接器，其检查探针的导通部位呈向上凸起的形状。使检查探针接触这种端子形状的产品时，由于弹簧针为“点接触”，所以易于发生接触不良。但是，如果是欧姆龙的EFC工艺技术，则可定制形状适用于客户应用的叶片针。通过“面接触”的设计实现具有较高可靠性的接触。

[面接触]

叶片针
叶片针与导通部为面接触，所以几乎不会发生接触不良，
可实现稳定的机械性和电气性接触

[点接触] BtoB连接器

弹簧针
弹簧针与连接器导通部为点接触，所以难以执行稳定的机械性和电气性检查
容易出现接触不良的情况

欧姆龙的EFC工艺技术

欧姆龙可提供弹簧针难以实现的、支持0.35mm以下间距宽的检查专用探针。可支持最小0.175mm的微距，即使是高密度贴装且逐渐多功能化的相机模组或显示屏模组，也可执行高精度检查。欢迎随时咨询。

智能相机的相机模组

要想通过高密度贴装实现多功能化、小型化，则需要更多的信号传输手段。虽然贴装面积有限，但互换的信号量会逐渐增加，所以需要微距的端子排列才能实现更多的端子(信号传输部)贴装。检查侧的设备也需支持微距（支持最小0.175mm的微距）。


现场	即使是高明度贴装的检查对象物体也可正确执行检查也可支持板形且端子宽度狭窄的检查对象。	不支持较小电子元器件的检查立方体且占据横宽的探针形状。如果强行缩小探针则会导致折断而无法执行检查。
规格	*^最小0.175mm间距**	^*最小0.35mm间距

现场

即使是高明度贴装的检查对象物体也可正确执行检查