vol.264 January 2023

获取最新的电路板设计信息 新鲜速递 解决方案篇

经营・设计・制造 高效化
这是测试工序如今
需要面对的三大课题

在商品价值中,“品质”非常重要。
要在维持高生产效率的前提下确保品质,
就需要在测试数量不断增加的测试工序中开展切实有效的运用。
此外,对地球的环境保护也是目前企业必须回答的命题。
欧姆龙提供的高性能电子零件,可解决测试工序需要面对的这三个课题。

提出通过电子部件实现测试工序的品质提高、高效化、环保的提案。

品质提高
提高测试的可靠性

通过高接触可靠性的结构和高线性性能,提高测试的可靠性。

高效化
缩短测试时间

除了提高作业效率,还能节省电力。

环保
降低废弃损失

因为降低了产品的废弃损失,从而减轻了环境负担。

用于移动设备等的测试装置

配备USB Type-C设备测试插座 XP2U-001
详见产品篇特辑

[提高测试品质]
由于前端为树脂结构,不易损伤被测对象

[高效化]
取消了锁定机构,再加上低插拔力,有助于测试的自动化

[环保]
实现20万次的插拔耐久性,大幅减少了以往3,000次左右就废弃的电缆的损失

用于半导体(IC)测试装置

产品截面图:侧面接点用弹片微针模组/BGA/被测对象IC

BGA型

EFC IC 测试插座

[提高测试品质]
实现可靠性与低接触电阻*1

[高效化]
实现高合格率*1

[环保]
实现高耐久性*1

*1. 与弹簧针的性能比较。

用于各种信号的测试装置

测试装置(IN)<-->被测对象(OUT)

可高速开关测试装置与被测对象之间的连接。

光敏半导体 MOS FET G3VM系列

[提高测试品质]
线性特性良好

[高效化]
通过高速响应缩短测试时间

[环保]
凭借半导体实现长寿命

*截至2022年12月的内容。
请注意,规格如有更改,恕不另行通知。

服务中心eService

服务中心eService