如何才能在微型光电传感器(光遮断器)上实现长时间的稳定检测？

1. 实现S/N比的最大化
   将设备内置用微型光电传感器(光遮断器)上有检测物体时(信号)的光电流作为IL(S)、无检测物体时(干扰)的光电流作为IL(N)。
   将此信号：IL(S)与干扰：IL(N)进行对比，由此检测物体的有无。因此，要想稳定地检测物体，尽可能增大信号/干扰(S/N)比至关重要。
   结合应用、在设备设计上下功夫，即可增大传感器的S/N比。
2. 阈值的最优设定
   在此假设精心设计了一款使传感器的S/N比达到最大化的设备。要想传感器在该应用中可执行长时间的稳定检测，在设备的目标运行期间内掌握信号：IL(S)、以及 干扰：IL(N)的变动状况至关重要。也就是说，在该期间内，基于各种评估结果预测信号：IL(S)的 最差值、干扰：IL(N)的最差值。　导致IL(S)、IL(N)在设备运行中发生变动的原因包括检测物体的个体偏差、设备结构或磨损所致位置偏移、LED的经时老化、温度变化、粉尘影响、扰乱光的影响。这些都是应该评估的项目。综上所述，最优阈值应基于合理的评估结果预测信号：IL(S)、以及 干扰：IL(N)的最差值，然后设定为该值的中间值。

关于S/N的最大化
透过型(凹槽型)微型光电传感器时，如果检测物体是完全不透明体(金属等)、且插口为完全遮光的大小，S/N比则会远远大于光电流的个体偏差，从而无需进行特殊处理。但是，如果检测物体使用了黑色塑料板，则可能因板厚或染色剂含量而无法充分遮光，故请事先通过实物进行评估。此外，请注意防止作为干扰成分的扰乱光入光。
反射型微型光电传感器时，检测物体的个体偏差(形状/尺寸、反射率、表面状态)及其变化、检测物体的位置、角度偏差、背景物体的影响等导致变动的原因多于透过型微型光电传感器，所以需要在尽可能增大S/N比方面下功夫。
在不同的应用中，增大S/N比的方法很多，以下介绍作为要领的范例。

■有背景物体时：减小干扰

• 【清除背景物体】
  背景物体为设备机架等时，可采用开孔等设备设计方式。
• 【减少来自背景物体的反射光】
  将背景物体加工为低反射率的表面(黑色、粗糙面等)。或粘贴低反射垫。
• 【减少来自背景物体的反射光】
  将背景物体表面作为光泽面，为其设置角度使反射光不会射入传感器。
  如果检测物体为粗糙面，则可倾斜设置传感器，由此减少来自背景物体的反射光。
• 【更换传感器】
  使用可接近检测物体的近距离型传感器。（例）EE-SY1200型
• 【更换传感器】
  使用限定反射型传感器。（例）B5W-LB型

■关于检测物体：增大信号

• 基于所用传感器的“检测距离特性(曲线图)”，将受光量达到峰值的距离设定为检测距离。
• 设计时采用大于所用传感器光束点的检测物体。

■检测物体较小时：增大信号

• 【更换传感器】
  使用光束点较小的传感器。（例）EE-SY169A(B)型

相关资料

• 微型光电传感器 选型指南