大功率晶体管上使用了硅酮。对继电器有影响吗？

硅导致接触不良的发生机制

1. 在硅气体环境中使用。
2. 硅气体从继电器机壳或扣合间隙侵入继电器内部(即使是塑封型继电器，气体依然会侵入)。
3. 接点负载开关时的电弧热量导致有机硅(Si)生成氧化硅(SiO2)后附着于接触点。
4. 氧化硅伴随开关次数的递增逐渐堆积(保护膜层增厚)，接触电阻不断增大而导致接触不良。

关于大功率晶体管的硅酮使用
大功率晶体管与散热板(散热片)之间有时会使用硅脂，但会因大功率晶体管(Tr)的发热而使硅脂产生硅气体。
使继电器产生接触障碍所需时间根据硅脂中所含硅含量、继电器上执行开关的负载大小而异。
执行微小负载开关时，因无法破坏已生成的硅保护膜而会提到产生接触障碍，而在执行大功率开关时则可通过电弧破坏硅保护膜，从而可使接触障碍的发生长期延后。

除了硅脂以外，也请勿使用其他含有有机硅的黏合剂等。请使用未含硅成分的产品。

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